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X-ray荧光-XRF XRF 检量线客制服务-多元应用
XRF荧光分析是材料分析中常用的技术，其广泛应用。虽然现有软件已开放让用户建立自己的检量线，然而，由于样品元素组成和基质特性对特征光谱的影响，将会左右特征光谱的表现，因此在建立XRF应用分析时，除了电压设定是否能有效激发、电流强弱是否造成过多的无效讯号(dead time)和滤波器如何选择以提高信噪比，当然，X光管的靶材选用是否合适…等因素，重要的是如何透过算法排除连续性辐射或基质影响造成波形背景干扰。因此除了软件的开放性，专业的校正资源和技术经验才是关键的角色。设备供货商必须提供完善的校正资源以及丰富的经验，只有当仪器拥有丰富的校正资源，以及专业校正能力的技术团队，才能确保校正结果的线性能符合被测物的浓度范围。
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X-ray荧光-XRF 环保事业废弃物必备利器 - 1分钟快检硫氯八大重金属
透过XRF分析技术，我们对废弃物中的有机氯、硫化物等污染物进行严格控管。无论是调整稀释焚化前浓度，或提升焚化温度防止戴奥辛产生，我们始终确保环境保护的关键步骤。
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色差仪-X-rite 提升显示器附加价值：从色差校正开始
电子产品的外观颜色和显示效果的一致性非常重要，为确保电子产品的颜色不会褪色，制造商及供货商需要使用色彩校正软件及色差仪进行校正测试。
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质谱仪-Mass 聚合物降解分析-以UV/Py-GCMS分析EVA为例
UV/Py-GCMS结合UV照射器与热裂解质谱仪，它可以帮助我们在短时间内了解聚合物的降解情形，本文利用UV/Py-GCMS研究EVA在光、热和氧化的情况，提供EVA耐受性参考。
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质谱仪-Mass 聚合物分析不可缺少的工具-热裂解气相层析仪与F-Search软件
材料中的聚合物鉴定往往耗费大量时间在数据库比对，有了F-Search这套聚合物鉴定软件，让比对工作变得轻松简单了。本文利用F-Search，说明软件如何鉴定未知聚合物。
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质谱仪-Mass TDS热脱附质谱仪应用在半导体、面板、薄膜材料的氢气、水气、氧气超威量检测
热脱附质谱仪(TDS)可以侦测微量气体，半导体、面板中微量水气、氢气和氧气都可以被侦测，除此之外，也可运用在金属冶炼、能源产业的气体分析。
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