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2021.Jun.07

X-ray荧光-XRF EA 1400的新型检测器SDD跟传统XRF检测器SDD的巨大差异

 
日立Hitachi EA系列是全球RoHS检测设备中最经典且普遍的型号,过去从SEA 1000A系列转换到EA系列历经EA 1000VX、EA1200VX,最新型EA系列已来到EA 1400。EA1400主要零件设计大幅更改,包括光管设计、检测器SDD设计与样品观测系统。此文针对新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD加以说明,因为一样SDD检测器,检测能力仍可差距8~10倍。
 
新型检测器高灵敏度和高光通量测量

新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD在高能量区域中具有更高的量子效率,可实现Cd Kα、Ba Kα、Sb Kα能带的高灵敏度、高光通量测量 ,并且在中能带范围对于Pb Lα、Br Lα、, As Lα,进步更为巨大。

EA 1400新型检测器在能量范围7Kev~30Kev 注1,量子效率在常用范围明显比其他SDD检测器的XRF机型好30%~70%,对于灵敏度提高检测下限降低测试时间缩短有明显优势。
 
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新型检测器|更高的分辨率和更高的光通量CPS

新型EA1400与之前的型号EA1200VX、EA1000VX或同类型SDD相比,EA1400凭借其高分辨率、高光通量SDD在检测样品主要成分附近的微量元素方面表现出色,可在金属和其他材质质量控制等测试中实现卓越性能。
 
新型检测器|SDD检测器搭配真空系统
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EA1400通过使用新的检测器搭配真空系统,轻元素的灵敏度大大提高,对于轻元素钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、钙(Ca)比同样SDD检测器的XRF机型灵敏度高8~10倍以上,有助于各种领域的轻元素分析。适合应用在高分子材料、陶瓷材料、金属材料的研发需求与商业金属、矿物、水泥的质量控管。
 
 
新型检测器|RoHS应用更快地筛测黄铜中的镉(Cd)

金属中的镉(Cd)、锑(Sb)、铅(Pb),相对于塑料材质中的RoHS控管元素镉(Cd)、锑(Sb)、铅(Pb)更难达到低检测下限,未来黄铜的铅排外条款即将到期,黄铜中的镉测试更为困难。EA1400与之前的型号EA1000VX或同类型SDD XRF相比,测量黄铜和其他金属中痕量镉(Cd)的检测下限及降低测试时间的效益增加2倍以上。
 
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▼ 300秒测量时黄铜中各元素的检测下限(mg/kg)
元素 Cd Pb Cr
检测下限 4 13 11
*数值仅为范例,并非保证值。
 
质量控制:检测隐藏的异物分析
使用X射线照射系统,很难测量表面不平整或不规则以及附着在基材上的污染物。EA1400搭配优化的X射线照射和样品观察设计,能够检测和分析来自污染物的元素。对于轻元素镁(Mg)、铝(Al)、磷(P)、硫(S)、钾(K)、钙(Ca)、钛(Ti)的定量分析更适合金属、陶瓷、炉渣等研究领域。
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  平均值(wt%) SD(wt%) RSD
SiO2 34.89 0.01 0.04%
CaO 45.07 0.02 0.03%
MgO 3.49 0.03 0.9%
Al2O3 12.94 0.01 0.08%
S 1.56 0.002 0.1%
K2O 0.97 0.001 0.1%
TiO2 0.84 0.002 0.3%
*数值仅为范例,并非保证值。

 
注1. XRF分析能量:镉(Cd) Kα 23.108keV;镉(Cd) Kβ 26.084keV;铅(Pb) Lα 10.542 keV;铅(Pb) Lβ 12.626keV;汞Hg Lα 9.980keV、汞(Hg) Lβ 11.853keV
 
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