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质谱仪-Mass 什么是光游离源PI
什么是光游离源? 本文介绍光游离源的原理,并比较几种气相层析质谱仪常用的游离源。
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X-ray荧光-XRF Hitachi桌上型XRF产生多重能谱
许多使用者在第一次接触桌上型XRF测试样品时,若遇到样品NG问题会不知道该如何处理,这时候便需要使用能谱判断的技巧来排除XRF本身测试的一些现象。
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X-ray荧光-XRF 样品真的NG吗!? XRF能谱判读教学
使用桌上型XRF进行样品测试时,仪器会帮您判定RoHS管制的有害物质元素浓度是否超标,但假如您遇到测试结果NG,可以藉由XRF能谱判读来进一步分析。
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X-ray荧光-XRF 3M验铅棒与Vanta XRF检验仪之差异
3M验铅棒与Vanta XRF重金属分析仪,皆可在非破坏之情况下分析样品有铅、无铅,差异在于3M验铅棒只能定性是否含铅,但Vanta XRF分析仪则是可再精准定量铅的含量与其它重金属。
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质谱仪-Mass FD法让你看到热裂解仪看不到的添加剂
一般在做材料分析时,会使用Pyrolysis GCMS分析材料中的添加剂,然而,裂解温度会让化合物难以推测原始结构,使得鉴定添加剂变得困难。针对上述状况,使用FD方法可以解决。
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热分析-DSC DSC测量氧化诱导时间(OIT)
氧化诱导时间(Oxidation induction time, OIT)是测定样品在高温氧气条件下开始发生氧化反应的时间,是评价材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。通过DSC测量氧化诱导时间遵循ISO 11357-6和ASTM E1858-08 (2015)标准测试规范。