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X萤光-XRF XRF与ICP-OES测试比较-以Ni-P镀层中Pb含量为例
在检测RoHS的法令中铅的限制浓度是1000ppm，这种检测方式在均质材料是没有问题的，但当需要检测到电镀层中的铅含量时，一般的XRF会因为镀层以及基底的差异，会造成浓度被稀释的状况，而日本精工SEA系列的XRF可以做RoHS的检测外还可以针对膜厚进行分析，透过检量线法可以分析5层的差异，除了可以分辨镀层厚度还可以量测出镀层的元素含量，这些都是因为SEA1200VX搭载了SDD Vortex的检测器，可以检测微量的强度并有效地分析。
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热分析-DMS DMS (DMA)动态黏弹性分析仪-样品尺寸选择
Dynamic Mechanical Spectrometer (动态热机械分析仪)，一般常用DMS或DMA做为简称，其原理是使样品处于程式控制的温度下，通过对材料样品施加一个已知振幅和频率的振动，测量损耗因数( Tan d)随温度、时间、力量与频率的函数关系，用以精确测定材料的储存模量(E')、损耗模量(E”)、杨氏模量（E*）或剪切模量（G*）、粘弹性等机械行为，藉由所得數据的判断可知材料随温度变化的强度、黏性、弹性、Tg 点、制震效果、材料混煉效果、各种相转变点等。DMS被广泛应用于热塑性与热固性塑胶、橡胶、涂料、金属与合金、无机材料、复合材料等领域。
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X光影像-Analyzer 动态影像画面更新率分析仪
随着手机快速发展，手机各式功能多样化，人们逐渐把重心转往手机细腻度的精致要求，对于手机、平板、E-book电子书等各种显示平板效能，在各种应用程式或使用者介面操作下的画面变化流畅度，已逐渐成为使用者体验的重要选择因素之一。
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X-ray影像 科技新知-高画质光学实体显微镜HD10
随着科技进步，与两岸人力工资提高，许多微小机械零件或像是微芯片、螺丝等质量控管精度日渐提高，而在产品筛检效率与人力节省等相关技术也不断在改良。
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X-ray荧光-XRF 来自NASA的专利技术，XRD/XRF 同步分析仪
诞生于火星研究计划中的XRD设备，inXitu的XRD工程团队研究开发出的BTX是世界上第一台桌上型的XRD。美国太空总署已正式核准授权inXitu将自己的技术商品化并销售，BTX结合了XRF/XRD带来不一样的检测方法，而其独特的粉末处理系统在检测时不需要调整光管以及Detector，在我们粉末处理系统中，不仅是样本准备时间小，且与实验室等级的大型系统有同等波峰辨识的正确性。
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X-ray影像 高画质光学实体显微检测系统(HD10)
质量检测时碰到物体太小或太细微无法检视吗?为了出一份漂亮的报告需要快速出图标定物体的尺寸甚至加上批注吗? ”高画质光学实体显微检测系统” 提供了你最有效的辅助工具让你快速的解决上述的问题
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