X-ray荧光-XRF 移动式膜厚镀层分析(XRF Coating)

金属镀层

是一种常用的表面处里技术，将金属或合金覆盖在另外一种材质上，这个过程可以在不同材料上应用，包括金属、薄膜、塑料、陶瓷和其他材料，以改善基材的性能、外观及耐用性，因此透过有效的金属镀层厚度管控，能确保产品的厚度符合标准，并满足客户的需求。

以往检测膜厚皆需要透过桌上型的XRF膜厚分析仪，设限于体积大小以及便利程度，目前Evident Olympus XRF可在手持的情况下，透过分析不同元素的信号强度，在非破坏的情况下，仅需短短10秒钟的时间，即可推算出金属镀层的厚度，其携带方便的特点使得样品的大小不受限制，达到了快速且精准进行质量管控的目的。

Evident Vanta XRF

在精准分析各种金属镀层厚度方面的关键之一，就是建立相应的标准品。为此，我们针对几种常见元素镀层做重复性测试(详下方图表)，将XRF标准品实际厚度建立在并进行回测后，实际数值与标准品数值非常相近，三次测试结果并说明Vanta XRF的准确性及再现性。

Zn/Fe 标准值	Zn:4.9um	Zn:15.3um
回测-1	4.91	15.29
回测-2	4.93	15.29
回测-3	4.94	15.30

▲表一 Vanta XRF 铁镀锌(Zn)4.9um、15.3um标准品镀层分析

Ni/Fe 标准值	Ni:9.9um	Ni:15.0um
回测-1	10.04	15.05
回测-2	10.05	15.02
回测-3	10.03	15.03

▲表二 Vanta XRF 铁镀镍(Ni)9.9um、15.0um标准品镀层分析

Ni/Al 标准值	Ni:9.2um	Ni:15.1um
回测-1	9.14	15.14
回测-2	9.18	15.13
回测-3	9.18	15.09

▲表三 Vanta XRF 铝镀镍(Ni)9.2um、15.1um镀层分析

透过上述的分析中可得知，Evident Vanta XRF确实在精确度上能符合客户端的需求，使用者可以透过实时的测量数据来建立基准，而不仅仅依赖于已知标准样品的校准。使用者可以选择一个具有已知厚度或组成的参考样品，将其放入仪器进行测量及校正。Vanta XRF会根据这个参考样品的测量结果建立基准。之后，使用者可以将这个基准应用到后续的样品测量，更加方便地进行现场测量、校正和质量控制。

当然Evident Olympus XRF也具备同时测量多层镀层厚度的能力，详图一可达到三层的厚度分析。用户可以透过输入已知镀层元素的信息(如图二)，让设备快速而精确地分析每层的厚度信息(如图三)。