X-ray荧光-XRF EA 1400的新型检测器SDD跟传统XRF检测器SDD的巨大差异
日立Hitachi EA系列是全球RoHS检测设备中经典且普遍的型号，过去从SEA 1000A系列转换到EA系列历经EA 1000VX、EA1200VX，新型EA系列已来到EA 1400。EA1400主要零件设计大幅更改，包括光管设计、检测器SDD设计与样品观测系统。此文针对新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD加以说明，因为一样SDD检测器，检测能力仍可差距8~10倍。
新型检测器｜高灵敏度和高光通量测量
新型高光通量的检测器silicon drift detector SDD在高能量区域中具有更高的量子效率，可实现Cd Kα、Ba Kα、Sb Kα能带的高灵敏度、高光通量测量 ，并且在中能带范围对于Pb Lα、Br Lα、, As Lα，进步更为巨大。
EA 1400新型检测器在能量范围7Kev~30Kev 注1，量子效率在常用范围明显比其他SDD检测器的XRF机型好30%~70%，对于灵敏度提高、检测下限降低、测试时间缩短有明显优势。
新型检测器｜更高的分辨率和更高的光通量CPS
新型EA1400与之前的型号EA1200VX、EA1000VX或同类型SDD相比，EA1400凭借其高分辨率、高光通量SDD在检测样品主要成分附近的微量元素方面表现出色，可在金属和其他材质质量控制等测试中实现卓越性能。
新型检测器｜SDD检测器搭配真空系统
EA1400通过使用新的检测器搭配真空系统，轻元素的灵敏度大大提高，对于轻元素钠(Na)、镁(Mg)、铝(Al)、硅(Si)、磷(P)、硫(S)、钙(Ca)比同样SDD检测器的XRF机型灵敏度高8~10倍以上，有助于各种领域的轻元素分析。适合应用在高分子材料、陶瓷材料、金属材料的研发需求与商业金属、矿物、水泥的质量控管。
新型检测器｜RoHS应用更快地筛测黄铜中的镉(Cd)
金属中的镉(Cd)、锑(Sb)、铅(Pb)，相对于塑料材质中的RoHS控管元素镉(Cd)、锑(Sb)、铅(Pb)更难达到低检测下限，未来黄铜的铅排外条款即将到期，黄铜中的镉测试更为困难。EA1400与之前的型号EA1000VX或同类型SDD XRF相比，测量黄铜和其他金属中痕量镉(Cd)的检测下限及降低测试时间的效益增加2倍以上。
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▼ 300秒测量时黄铜中各元素的检测下限(mg/kg)
| 元素 | Cd | Pb | Cr |
| 检测下限 | 4 | 13 | 11 |
质量控制：检测隐藏的异物分析
使用X射线照射系统，很难测量表面不平整或不规则以及附着在基材上的污染物。EA1400搭配优化的X射线照射和样品观察设计，能够检测和分析来自污染物的元素。对于轻元素镁(Mg)、铝(Al)、磷(P)、硫(S)、钾(K)、钙(Ca)、钛(Ti)的定量分析更适合金属、陶瓷、炉渣等研究领域。
*数值仅为范例，并非保证值。
使用X射线照射系统，很难测量表面不平整或不规则以及附着在基材上的污染物。EA1400搭配优化的X射线照射和样品观察设计，能够检测和分析来自污染物的元素。对于轻元素镁(Mg)、铝(Al)、磷(P)、硫(S)、钾(K)、钙(Ca)、钛(Ti)的定量分析更适合金属、陶瓷、炉渣等研究领域。
| 平均值(wt%) | SD(wt%) | RSD | |
| SiO2 | 34.89 | 0.01 | 0.04% |
| CaO | 45.07 | 0.02 | 0.03% |
| MgO | 3.49 | 0.03 | 0.9% |
| Al2O3 | 12.94 | 0.01 | 0.08% |
| S | 1.56 | 0.002 | 0.1% |
| K2O | 0.97 | 0.001 | 0.1% |
| TiO2 | 0.84 | 0.002 | 0.3% |
注1. XRF分析能量：镉(Cd) Kα 23.108keV；镉(Cd) Kβ 26.084keV；铅(Pb) Lα 10.542 keV；铅(Pb) Lβ 12.626keV；汞Hg Lα 9.980keV、汞(Hg) Lβ 11.853keV
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