X-ray荧光-XRF 全新Hitachi XRF EA1400荧光元素仪，解决所有复杂成分分析!

2020年9月Hitachi日立发布新款EA1400 XRF荧光元素分析仪，EA1400采用新型高感度高通量SDD硅飘移探测器，及精确度更优异的硬件相关配置技术。EA1400适用于高精确的RoHS大批量检测，相较以往提供降低误差率及提高了检测的精准度；在贵金属、炉渣、水泥或黄铜等高复杂成分分析应用， EA1400 XRF分析仪为大厂的非破坏性分析中发挥了关键性的精准测试。

若样品具有一定的高度，测试目标物(或异物颗粒)位于样品本体上缘，目标对象与XRF台面具有一定的高度段差，亦或样品待测位置为非平整表面，过往XRF会产生CCD摄像头观察位置与X射线照射位置不一致的情况，致使产生分析上的误差。

 

EA1400为了解决非扁平样品的分析问题，将X射线管笔直放置在样品下方，以致能准确照射到样品观察屏幕上的目标测量点，对于非扁平样品的测量极为有效。


  

为改变用于制作首饰的贵金属合金(金，银，铂等)的硬度、可加工性、颜色，通常会在成品中添加铜(Cu)和钯(Pd)等元素。为精确定位购买价格或采取适当的精炼手法，对于金，银，铂等的主成分元素与添加元素成分的精确分析至关重要。

以下提供EA1400相比传统机型 EA1200VX 于分析上具有更高的灵敏度和更高的分辨率。
 

分析样品为18K金(Au 75%，其他含有Ag,Cu)

 

上图(a)是使用EA1400测量18K金的X射线能谱。(b)为在20 keV附近银(Ag)的荧光X射线强度的X光讯号强度和感度，EA1400相较于以往EA1200VX 机型讯号输出量(CPS)更为提高，更精确分析于此能量间带的荧光X射线能谱。
 

在钢铁炼制过程中的产物炉渣，可作为水泥原料以及道路的素材等回收利用。而炉渣中也有可能含有的重金属等有害物质，为了在不同用途下满足质量分析、因此对成分分析精度要求通常非常严格。

以下为EA1400与以往EA1200VX机型相比、EA1400使用搭载有高灵敏度及高分辨率SDD探测器，来进行炉渣试料(运用JSS 902-1)的成分分析。
 

日本钢铁标准物质(JSS) 902-1 高炉炉渣样品
 

JSS 902-1高炉炉渣样品中镁,铝,硅的荧光X射线能谱

由于轻元素受到元素间的波峰干扰的影响较大，因此对于分辨率要求更高。EA1400相较于以往EA1200VX不仅具有更优异的高分辨率，同时也具有得更高感度的荧光X射线强度。
 

上图为针对EA1400和EA1200VX测试中轻元素的强度比，可看出EA1400可以实现相较过往所有XRF更高精度的轻元素复杂物质分析，实现炉渣在轻元素中的成分分析。

崭新的EA1400 XRF除了更精确的RoHS检测，也能够分析复杂的矿渣(硅、钙、铝和镁)、贵金属、聚合物、矿物、化学品或其他各式材料中的复杂应用分析。科迈斯科技做为日立高新的代理商，EA1400能帮助客户在材料检验上缩短测量的时间、简化测量的流程并结果管理、同时减少操作失误、提高检测效率，满足客户在快速检测上的需求。