X射线荧光镀层厚度测量仪 FT230 产品型号：FT230
FT230台式XRF分析仪的设计大大减少了进行测量的时间。日立工程师认为样品的设置和测量配方的选择往往会耗费大量的时间，因此推出了一个具突破性的分析仪，其可以有效地 "设置 "自己，使得在过程中可以分析更多的零件。
自动化和创新软件是FT230分析仪的特点。智能识别模块，如Find My Part™（查找我的样品），意味着操作者只需装载样品及确认零件，FT230就会处理其余的事情。它将在您的部件上找到正确的测量位置，即使是在大型基材上，选择正确的分析程序并将结果发送到您的质量系统。减少了时间和人为的错误，使得你可以在更短的时间内完成更多的分析，能够在繁忙的生产环境中实现100%的检查。
＃膜厚分析 #元素分析 #非破坏性分析
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FT230的每一个部分都是为了准确测试，并大幅减少分析时间而设计的。
- 自动聚焦减少样品装载时间
- Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
- 屏幕大部分区域用来显示样品视图，提供了极佳的可视度
- 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
- 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
- 采用了新的使用者界面，非专业人员也能直观、方便地使用。
- 功能强大，可同时测量四层镀层
- 经久耐用，在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
- 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
- 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
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分析 详细内容 X射线管 钨(W)靶微焦点X射线管，自上向下照射式， 大50 kV，1000μA，50 W 检测器 高分辨率大面积50 mm2 SDD 初级滤波器 5个初级滤波器(2种铝膜、钛膜、钼膜、镍膜)+ 1个无滤波器 准直器 4个准直器，有长圆形和圆形两种可供选择，尺寸范围为从0.01 x 0.25 mm到1 mm(0.5 x 10 mil到40 mil) 元素范围 铝(13)-铀(92) 层数 多5层 (4层加基底) 可选元素 自由选择 大气补偿 自动温度和压力补偿 环境 空气 规范 能量色散X射线荧光测量镀层 符合ASTM B568、DIN ISO 3497 样品定位 详细内容 样品尺寸 500 x 400 x 150 mm 样品台行程 250 x 200 mm 样品台尺寸 900 x 600 mm-电动样品台，开槽样品室
270 x 210 mm-电动样品台，密闭样品室
540 x 540 mm- 固定样品台样品台速度(电动配置) 80mm/s 样品台精度(电动配置) ≤ 5 μm 样品重量 10 kg - 固定样品台
5 kg - 电动样品台z轴行程 205 mm 工作距离 5 mm- 标称，聚焦激光器
5至67 mm-自动对焦/自动接近(可选)样品台-Z轴控制 软件控制和带启动按钮的三向操纵杆(可选) 聚焦 7.1 x 5.3 mm 视野(广角摄像机，可选) 250 x 200mm 定位辅助 雷射定位、预定位激光(电动样品台配置) 软件 详细内容 用户接口 FT Connect 标准功能 镀层分析(FP和经验分析)、体相材料成分分析(FP和经验分析)、多点程序设计、定性模式、数据历史、诊断、ExTOPE云链接密码保护、多级访问控制软件 智能识别功能 “查找我的零件”(机器视觉、二维码/条形码扫描、文本查找)、“查找我的模式”(机器视觉) 语言 简体中文、繁体中文、捷克语、英语、法语、德语、意大利语、日语、韩语、葡萄牙语、俄语、西班牙语 PC规格 Windows 10 64位 PC 尺寸和工作环境 详细内容 尺寸 600 x 815 x 745 mm- 密闭样品室
900 x 931 x 745 mm- 开槽样品室，电动样品台重量(不含PC) 140kg 温度范围 10 - 40 °C 湿度范围 相对湿度:90%(无冷凝) 供电要求 100-240 V±10% ; 47-63 Hz ; 1.5 A 信号塔(可选) 三层红色/黄色/绿色指示灯(X射线打开/快门打开/仪器通电) Au/NiP/Cu的典型性能 Au NiP 测试范围 0.051 - 0.09 μm
(2.00 - 3.55 μin)2.7 - 5.7 μm
(106 - 225 μin)标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.0025 μm @ 0.09 μm
(0.099 μin @ 3.55 μin)0.026 μm @ 5.7 μm，8 %P
(1.02 μin @ 225 μin，8 %P)Sn/Ni/Cu的典型性能 Sn Ni 测试范围 2.16 - 9.2 μm
(85 - 362 μin)0.97 - 15.1 μm
(38 - 595 μin)标准误差 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 0.025μm(1μin)或5%相对偏差，以较大者为准 30 s时的精度(2σ)，0.3 mm准直器 0.014 μm @ 4.9 μm
(0.55 μin @ 193 μin)0.036 μm @ 4.7 μm
(1.42 μin @ 185 μin) -
FT230膜厚仪适合各种金属镀膜厚度量测
▶连接器镀层分析
▶半导体应用分析
▶PCB表面处理分析
▶电镀分析
▶镀锌及涂锌层分析
▶CVD和PVD镀层的分析
FT230并符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准, 帮助您满足ENIG（IPC-4552B）、ENEPIG（IPC-4556）、浸没锡（IPC-4554）和浸没银（IPC-4553A）的规格要求
