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基于X荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。 X-Strata 920提供多种配置，可分析单层和多层镀层（包括合金层）。四种样品台配置，分别是标准台、井深式、加宽式、程控式，可依照需求分析任何形状的部件样品。
- 开槽式样品仓设计，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器 宽度的印制线路板或小型的连接器，接插件样品。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点
- 样品尺寸：270 x 500 x 150mm
- 准直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
- 可根据需求选择检测器-正比计数器(Ti钛~-U铀)或高分辨率 (Al铝 -U铀)SDD
- 可以分析金属膜厚及成分, 从原子序号22~至92的典型元素的电镀层、化学镀层
- 多层多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
- Z 轴自动控制, Z 轴自动对焦系统
- 钴二次滤光片，用于准确校正铜镍之间的相互干扰，合适镍层的精确测量
- 准直器数量：6个
- 金属薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根据不同镀层元素和镀层结构不同而不同
- Hitachi SmartLink FP 基本参数法
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項目 描述 測量方向
(X射線照射方向)從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦 外形尺寸 寬 x 深 x 高 [mm]： 約 407 x 770 x 400 mm 樣品台設計 開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器 寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點。 Z 軸自動控制（Z 向行程：43mm）
樣品倉內部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)X射線源 W 靶射線管 高壓發生器 50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發生器，高壓多檔可調 二次濾光片 鈷二次濾光片，用於準確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。 X射線接收器檢(探測器) 正比計數器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD 元素範圍 鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD） 視頻系統 彩色 CCD，30 倍光學放大， 200%、300%和 400%數位放大。樣品分析區域
在使用者介面顯示，清晰、易用。Z 軸自動對焦系統 鐳射用於 Z 軸自動精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到最佳測試距離。
「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動到最佳位置，同時將樣品圖像定焦（顯示在螢幕上）。
自動而簡單的操作提高儀器測試的再現性，並將人為測量誤差降到最低。
注：最佳測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動調節高度（Z 軸）。可測量的鍍層
元素範圍元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素 可測量的鍍層層數 最多可同時測量 4 層（不含基材） 可測鍍層厚度範圍 通常約 0.03 微米到 30 微米，根據不同鍍層元素和鍍層結構不同而不同。
