气相色谱质谱仪 GC-MS 产品型号：Master-Quad GC-MS(JMS-Q1500GC, GC-MS)
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■ 产品说明
日本电子JEOL在四极杆的技术发展上更上层楼，使得新一代的GC-MS具有更出色的性能。JMS-Q1500可应用在广泛的领域，如环境分析、药物检验、食品分析、农药分析、气体分析、材料研发及塑化剂分析等。为了增加应用领域的范围(固体进样、特殊样品及气体进样等)，除了传统的GC进样方式外可串联多种进样仪器。
■ 特色说明
1. 宽广的动态范围及强大的真空能力
JMS-Q1500GC之中的四极柱空间在同类型仪器中拥有大的体积。采用大型双曲线四极柱，能够提高离子进入的通量及离子的使用率，可进行大量的化合物分析及拥有宽广的动态扫瞄范围。由于具有极佳的离子的传输效率，在进行微量分析时也能具有很高的灵敏度。
2. 高容量的涡轮真空帮浦(Turbo Molecular Pump)
抽气速率高达400 L/sec，可在5分钟内达到高真空环境，应用在高流速管柱(如packed column或mega bore column)依然能够保持良好的真空度。
3. 高灵敏度及快速的数据采集 (Improve detection sensitivity and data acquisition)
根据JEOL的引入式透镜(Draw-in lens)及预过滤系统(pre-filter)，可将噪声降低、增加灵敏度及延长四极柱的寿命。在Scan模式下，1 pg的OFN的灵敏度可以达到S/N≧ 1,000(为JEOL QMS系统中灵敏度高的)，在SIM模式下，仪器侦测极限(Instrument detection limit, IDL)可达到10 fg或更低。更高性能的APU提高了数据采集的效率，在Scan模式下采集速度可达到22,222 u/sec。
Injection (#) RT.(min) Area CV% IDL 1 5.57 3065 2 5.57 2902 3 5.57 2981 4 5.57 2955 5 5.57 3028 6 5.57 3024 7 5.57 2987 8 5.57 3053 1.8% 6.3fg 4. 100 fg的OFN在SIM模式下，进行8次重复性实验所计算出的值(m/z 272)
同时监测多组SIM且保持高灵敏度 (Peak Dependent SIM, pd-SIM)新的”pd-SIM”功能能够提高分析时的灵敏度，在任何情况下皆可轻松达到佳SIM条件并进行实验。每1组的SIM可以设定100个通道(可达300组)，以及每个信道的采集速度可根据需求设定5 ms或更短。
5. 简易的维护步骤及更低的维护成本
JMS-Q1500采用更宽广的一体式离子源，减少了拆卸的复杂度，不需任何工具就可拆卸，能够以更轻松简单的方式进行离子源的维护或清洁、更换分析管柱使得维护成本下降。
6. 简易的分析软件 (Analysis Software “Escrime”)
”Escrime”是一款全面性的分析软件，可以轻松且有效的进行GC-MS资料的定性及定量功能。于定性时，所有的峰皆可以有效地进行分析，包含了峰列表(peak list)、数据库搜寻及图谱的比较等。定量部分可以进行自动峰面积积分、检量线建制、浓度计算及对单一或多峰面积进行修正等定量分析结果的报告，也可根据客户需求进行更改。
■ 选配配件/其他
光游离化离子源
(Photoionization, PI)PI为软性游离源，利用氘灯光源提供能量为10.3 eV的紫外光，将化合物离子化得到分子离子，结合传统的EI及PI，可得到更完整的分子量及结构信息，提高分析效率，对于未知物的鉴定是一大利器。 
■ 串联多种进样系统热重质谱仪系统
(TG-MS)TG/DTA是将样品加热并同时监测重量损失与能量变化的热分析技术，为了解热脱附的物质，将其与质谱仪串联可对升温过程中所产生的气体进行定性分析，能够一次了解材料在加温过程中的变化，应用于材料分析及有机合成等。 
热裂解GC-MS系统
(Py-GC-MS)将热裂解仪(Pyrolyzer)与GC-MS结合的分析技术，可藉由热裂解仪裂解有机化合物经由GC-MS进行分离及检测，应用于材料分析、橡胶分析及塑化剂等。 
顶空进样GC-MS系统
(HS-GC-MS)顶空进样系统(Head Space System)为一种预处理仪器，用于分析固体和液体所产生的挥发性有机物(VOC)。日本电子JEOL所开发的HS除了有传统回路(Loop)式进样，还具有补集管(Trap)式进样，能够进行极低浓度的分析，如水中霉味的低侦测极限可达1 ppt。应用于挥发性有机物检测、食品、化妆品及异味分析等。 
直接进样系统
(Direct Insertion Probe, DIP/DEP)JMS-Q1500GC系统还可选择两种探针以直接进样方式分析，根据不同的样品型态及需求去做选择。 
直接插入式探针
(Direct Insertion Probe, DIP)将固体或液体样品放入窄玻璃管中，再经由探针直接加热样品而直接离子化，应用于高沸点化合物的分析。 
直接暴露式探针
(Direct Exposure Probe, DEP)将液体样品放置在探针的Pt金属丝上，再经由探针施加电流直接将分子离子化，应用于高沸点及热不稳定性化合物的分析。 -
质量扫描范围 m/z 1.5-1022 离子源 - Electron Ionization (EI)
- Photo Ionization (PI)
- Chemical ionization (CI)
质量分析器 High-precision hyperbolic quadrupole w/ Pre-filter (QMS) 侦测器 Secondary-electron multiplier w/ Conversion dynode 真空系统 - Turbo molecular pump
- Rotary pump
真空进样系统 - Direct Insert probe (DIP)
- Direct Exposure Probe (DEP)
串联式进样系统 - TG/DTA
- Pyrolyzer
- Head Space
- Sniff
■ 委测检验
应用领域 样品形态 GC-MS 电池气体、逸散气体、塑化剂、有机化合物定性及定量、添加剂 气体
液体TG-MS 原料或材料定性、实时逸散气体监测 气体
固体Py-GC-MS 原料或材料、添加剂、高分子材料、塑化剂 气体
固体 -
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