X射线荧光分析仪 产品型号：EA1280
专门为中国客户研发，采用新一代硅飘移探测器(SDD)，能量色散X射线荧光（EDXRF）具有诸多优势：快速性、易操作性、非破坏性、无需使用化学品或气体，因此被广泛用于快速筛查受管制元素的分析技术。EDXRF可用于筛查目的，允许操作员仅在结果不确定时进行湿法化学分析，从而大幅提高测试处理量并降低分析成本。
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硅漂移探测器（SDD）设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外，高性能探测器能提高计数率，增加探测痕量元素的精密度，并且实现测量较轻元素的卓越能力。为了确保高生产率，将黄铜中镉的筛查（通常是XRF RoHS筛查中具挑战性的一项）功能设计成比传统型号速度更快，从而大幅提高通量。
该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1280一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况，由此可增加测量多件样本的通量，从而节省时间且不会影响质量计划。
除了RoHS筛查，EA1280也能够辨别矿渣（硅、钙、铝和镁）、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。 -
项目 描述 测定元素 原子序编号 13 (Al) ~ 92 (U) 测试环境 一般大气 (Al~U) X-ray 照射方向 X射线垂直照射（样品同轴观察） X光管 小型空冷式X射线管球（Rh靶） 检测器 硅半导体检测器（SDD） 准直器 5mm (1、3 mm 选配) 滤波器 5种模式自动切换 样品室 304(W)×304(D)×110(H)mm 重量 69Kg 电力需求 AC100~240V (50/60Hz)/190VA 自动样品转盘 块体基本参数法，块体标准检量线法 -
▶ RoHS/WEEE
(1) 满足欧盟RoHS指令，以及各国针对电子电机产品中有有害物质含量的快速检测分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。
(2) 针对目前IEC指令中之无卤素含量要求标准，利用XRF可建立快速、非破坏的检测方法，满足厂商简易的需求。
▶ 电子大厂重金属规范
(1) Sony-GP(Green Partner) SS-00259有害物质认证
(2) Apple 069-0135禁用物质规范
(3) Samsung Eco-Partner认证
(4) 广达、宏碁、HTC、华硕、台达、友达等国内大厂重金属规范
(5) HP、Panasonic、molex、Toyota、Foxconn、3M等国际大厂重金属规范
▶ 合金分析
(1) 金属材料质量控管：合金中主成份的快速分析。
(2) 合金成份的鉴定：有效分辨材质相近合金种类，如：304/321
(3) 贵金属的分析鉴定：贵金属金、钯、铂、银等含量分析
(4) 金属回收与分类：依金属成份含量做分类
(5) 回收汽车催化剂中，金、铂、铑的成份分析
▶ 油品分析
(1) 燃料中的硫含量对环境的影响：XRF 为有效检测燃料中硫成份的工具(依据ASTM D4294)
(2) 监测润滑油中重金属的成分：精油油品中Fe, V, Cu, Cr, Ni, Pb 可以提早知道引擎中是否有不正常的金属磨损(依据ASTM D6481)
▶ 镀层厚度分析
(1) 分析电子部品电镀层的厚度
(2) 各类五金电镀件的镀层厚度管控分析
(3) 各镀层的成分比例分析
▶ 空气环境监测
在空气过滤介质、灰尘抹布的含铅方面符合NIOSH Method7702，OSHA Methods OSSAI，OSSI 。
