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1.采用Vortex高分辨率之硅半导体多阴极检测器,为一般SEM/EDX专用之高阶检测器,不需要使用液态氮冷却。
2.高计数率设计的Vortex检测器,计数率可达150,000 cps,是一般检测器的15~20倍,能接受更多的X荧光讯号,针对合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的应用极佳。
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项目 |
描述 |
测定元素 |
原子编号 11 (Na) ~ 83 (U) |
样品形态 |
固体,粉末,液体 |
X光管 |
小型空冷式X射线管球(Rh靶)
管电压:15kV, 30kV, 40kV, 50kV
管电流:1mA |
检测器 |
Si 半导体检测器
(无需液态氮) |
准直器 |
1mm, 5mm自动切换 |
样品观察 |
彩色CCD摄像头 |
滤波器 |
5种模式自动切换 |
样品室 |
430(W)*320(D)*209(H)mm |
X-ray
Station |
笔记本电脑或桌面计算机
(OS; MS-windows XP) |
打印机(选购) |
喷墨打印机 |
定性分析功能 |
能谱测定,自动辨别,图谱比对 |
定量分析功能 |
KLM 标示表示,,差异表示,块体FP法,标准曲线法 |
统计处理功能 |
MS-EXCEL |
报告制作 |
MS-WORD |
设置尺寸 |
1080(W)*750(D)*810(H)mm
(不含打印机) |
重量 |
约90kg |
使用电源 |
AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, 10A |
选购 |
有害物质判定软件
能谱匹配软件(材料判定)
薄膜标准曲线软件
样品进样器
准直器: 3mmΦ
真空泵(轻元素分析用)
标准品 (金属电镀薄膜厚度标样, RoHS标样) |