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1.各大厂认可针对塑料及电子组件中有害重金属检测之X射线荧光分析仪
2. 采用Vortex高计数率Si半导体检测器,更快更灵敏分析样品,且无须液态氮
3.配备彩色CCD监视器
4.材料判定功能
5.分析线自动切换判别功能
6.具备形状、厚度、材质补正技术(HHS专利)
7.超低侦测下限(Cd:1.8ppm;Pb: 0.1ppm)
8. 高计数率设计的Vortex检测器,计数率可达150,000 cps,是一般检测器的15~20倍,能接受更多的X荧光讯号,针对合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的应用极佳。
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项目 |
描述 |
测定元素 |
原子序编号 13 (Al) ~ 92 (U) |
样品形态 |
固体,粉末,液体 |
X光管 |
小型空冷式X射线管球(Rh靶)
管电压:15kV, 50kV
管电流:1mA |
检测器 |
Vortex高计数率Si半导体检测器
(无需液态氮) |
准直器 |
1mm, 3mm, 5mm (自动切换) |
样品观察 |
彩色CCD摄像头 |
滤波器 |
5种模式自动切换( 含OFF 滤波器) |
样品室 |
370(W)*320(D)*120(H)mm |
X-ray
Station |
笔记计算机或桌面计算机
(OS; MS-windows WIN7) |
定性分析功能 |
能谱测定,自动辨别,KLM标记表示,图谱比对,差异表示 |
定量分析功能 |
块体基本参数法,块体标准检量线法 |
报告制作 |
MS-WORD,MS-EXCEL |
设置尺寸 |
1500(W)*1000(D) mm
(不含打印机) |
重量 |
约60kg |
使用电源 |
AC100 ~ 240V , ±10%, 单相三线 |
选购配件 |
- Film FP (薄膜FP软件)
- Film CAL (薄膜标准曲线软件)
- Spectrum Matching Software ( Material Discrimination)
- Hazardous Substance Measurement Software Ver.1
- Sample changer (自动取样器,最多可放12样品)
- Standard Reference Samples for various environmental regulations
- Signal tower
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