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膜厚仪 使用FT150 / FT160测量手机、车载片式原器件Ni/Sn电极膜厚应用案例
智能手机或车载计算机等使用的片式元器件,由于产品的小型化和多功能化,更加追求高密度的安装,部件本身也变得越来越小。它们中电极部分使用Sn和Ni双层膜的情况较多,因此对其膜厚管理的追求也越高
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膜厚仪 FT150 / FT160测量基板中超薄镀镍钯金Ni / Pd / Au层的厚度
芯片功能持续增加但体绩持续缩小,PCB上必须增加更多芯片,电子封装技术也发展出各种封装技术及方法,能同一基板上增加集成电路(IC)的数量及种类, 达到线路密集多功化之需求,但要有这些优点都架构在每层镀层厚度都有良好控制之下, 那么如何对这些极薄的贵金属镀层进行无损化分析及质量管控呢?
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膜厚仪 利用FT150 / FT160测量陶瓷芯片部件中Sn/Ni 双层膜
作为层压陶瓷片式原器件电容器的代表,陶瓷片式原器件在智慧手机及车载计算机等的无中心部件的一种。近几年,由于产品的小型化多功能化,我们一步步进入高密度安装时代,部件本身就已经非常小。
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核磁共振谱仪 qNMR检测技术应用于有机磷农药定量分析 【更新日期: 2022/11/24】
本文是介绍qNMR在农药定量中的应用,其中测定商业有机磷农药 (isoxathion oxon) 的纯度。
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热分析 热分析与热传导之比热量测试技术分析
本篇介绍DSC差示扫描量热法 与 Hot Disk瞬态平面热源法,比热容的测试原理及其实际测量的方式。
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RoHS 2.0 加州65提案的警告标签说明
加州第65号提案(PROP65)化学物质清单中,包含了大量会导致致癌物、先天畸形和生殖伤害的化学物质。 2016年下半年,已经完成的一系列加州65提案解决决议,要求对各种消费品重新调整对铅的含量要求,和提供一个加州65提案的警告标签。